ISO16750汽車安全測試之直流電源拋負載測試：

消費者的多樣化需求，導(dǎo)致車上搭載的電子設(shè)備增多（LED大燈、液晶顯示屏、車載音響、無線充電器等等），而這些電子設(shè)備均需要供電。牽扯到電，各類安全性測試就是重中之重。

本次想和大家分享的是load dump測試，即拋負載測試。

|直流電源拋負載測試基本概念：

①load dump：即拋負載，指汽車交流電機工作時，蓄電池短路導(dǎo)致負載突降的現(xiàn)象，拋負載會導(dǎo)致發(fā)電機產(chǎn)生浪涌電壓，該電壓會對各類電子設(shè)備造成較大損傷。

②ISO 16750:汽車電子安全性規(guī)范，其中16750-2針對的電子設(shè)備測試，涵蓋了load dump測試。

| 可編程直流電源拋負載測試方法：

通過可編程電源，模擬拋負載發(fā)生時的浪涌電壓波形，并將其輸出至電子設(shè)備端，通過數(shù)次測試判斷電子設(shè)備如能正常工作，即表明該電子設(shè)備通過測試。

| 可編程直流電源浪涌電壓波形：

U:測試電壓

t：時間

td：持續(xù)時間

tr：上升時間

UA:正常工作電壓

Us: 最大電壓

Us*:最大電壓（含拋負載保護器）

    上圖為回路是否設(shè)置拋負載保護器對應(yīng)波形

電子設(shè)備經(jīng)受規(guī)定次數(shù)拋負載波形，通過受影響表現(xiàn)劃分5個等級：

A類：設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間和之后，能執(zhí)行其預(yù)先設(shè)計的所有功能

B類：設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間，能執(zhí)行其預(yù)先設(shè)計的所有功能，但有一項或多項指標超出規(guī)定偏差。所有功能在移除直接暴露干擾之后自動回復(fù)到正常允許范圍內(nèi)。預(yù)先設(shè)計功能維持A類水平

C類：設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間，不執(zhí)行其預(yù)先設(shè)計的一項或多項功能，但在直接暴露干擾之后能自動回復(fù)到正常操作狀態(tài) 

D類：備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間，不執(zhí)行其預(yù)先設(shè)計的一項或多項功能，直到移除直接暴露干擾之后及通過簡單的“操作或使用”回復(fù)動作之后才能自動恢復(fù)到正常操作狀態(tài) 

E類：設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間和之后，不執(zhí)行其預(yù)先設(shè)計的一項或多項功能，且如果不修理或不替換設(shè)備或系統(tǒng)，則不能恢復(fù)其操作

針對拋負載測試，推薦我方SYSKON系列可編程直流電源，優(yōu)勢如下：

1. 響應(yīng)時間短（小于2ms）

2. 編程（可導(dǎo)入/導(dǎo)出儲存波形文件，模擬測試波形）

3. 精度高(0.05%+30mV)